SiTek探測(cè)器主要有兩種類(lèi)型:一維和二維。SiTek位敏探測(cè)器PSD根據(jù)側(cè)面效應(yīng)光電二極管原理工作,具有出色的位置分辨率。SiTek位敏探測(cè)器PSD,高分辨率,位置非線性±0.1%和±0.3%供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測(cè)器
查看詳細(xì)介紹共 1 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁(yè) 首頁(yè) 上一頁(yè) 下一頁(yè) 末頁(yè) 跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)
赫爾納貿(mào)易(大連)有限公司 版權(quán)所有 管理登陸 ICP備案號(hào):遼ICP備14000236號(hào)-11 網(wǎng)站地圖 技術(shù)支持:智能制造網(wǎng) |